• / 64
  • 下载费用:16 金币  

第二篇原子发射光谱分析法

关 键 词:
原子发射光谱法 原子发射光谱分析法 原子发射光谱分析 原子发射光谱法分析 原子发射光谱 原子发射光谱分析方法 光谱分析法原子发射光谱
资源描述:
第二章 原子发射光谱分 析法 第一节 原子发射光谱分析基本原理 一、概述 二、原子发射光谱的产生 三、谱线强度 四、谱线自吸与自蚀 一、概述 原子发射光谱分析法(atomic emission spectroscopy ,AES):元素在受到热或电激发时,由基态跃迁到激发态, 返回到基态时,发射出特征光谱,依据特征光谱进行定性、 定量的分析方法。 1859年,基尔霍夫(Kirchhoff G R)、本生(Bunsen R W)研 制第一台用于光谱分析的分光镜,实现了光谱检验; 1930年以后,建立了光谱定量分析方法; 原子发射光谱分析法的特点: (1)可多元素同时检测 各元素同时发射各自的特征光谱; (2)分析速度快 试样不需处理,同时对几十种元素进行定 量分析(光电直读仪); (3)选择性高 各元素具有不同的特征光谱; (4)检出限较低 10~0.1gg-1(一般光源);ngg-1(ICP) (5)准确度较高 5%~10% (一般光源); 1% (ICP) ; (6)ICP-AES性能优越 线性范围4~6数量级,可测高、中 、低不同含量试样; 缺点:非金属元素不能检测或灵敏度低。 二、原子发射光谱的产生 在正常状态下,元素处于基态,元素在受到热(火焰) 或电(电火花)激发时,由基态跃迁到激发态,返回到基态 时,发射出特征光谱(线状光谱); 特征辐射 基态元素M 激发态M* 热能、电能 E 原子的共振线与离子的电离线 原子由第一激发态到基态的跃迁: 第一共振线,最易发生,能量最小; 原子获得足够的能量(电离能)产生电离,失去一个电子, 一次电离。(二次电离) 离子外层电子跃迁时发射的谱线称为离子线,每条离子线 都具有相应的激发电位,其大小与电离电位大小无关。 原子谱线表:I 表示原子发射的谱线; II 表示一次电离离子发射的谱线; III表示二次电离离子发射的谱线; Mg:I 285.21 nm ;II 280.27 nm; 三、谱线强度 原子由某一激发态 i 向低能级 j 跃迁,所发射的谱线强度 可以表示为: Iij = Ni Aijhij h为Plank常数;Aij两个能级间的跃迁几率; ij发射谱线 的频率,Ni激发态原子数。 在热力学平衡时,单位体积的基态原子数N0与激发态原 子数Ni的之间的分布遵守麦克斯韦--玻耳兹曼分布定律: gi 、g0为激发态与基态的统计权重; Ei :为激发能;k为 玻耳兹曼常数1.38×10-23J/K;T为激发温度K; 谱线强度公式为(将Ni代入上式得) : 由上式可知,谱线强度与五个因素有关: 1、激发电位:是负指数关系。即,激发电位愈大,谱线 强度就愈小。 这是由于随着激发电位的增高,处于该激发态的原子数迅 速减少。实践证明,绝大多数激发电位较低的谱线都是比 较强的,激发电位最低的共振线往往是最强线。 2.跃迁几率:谱线强度与跃迁几率成正比。 跃迁是指原子的外层电子从高能态跳跃到低能态发射出光 量子的过程。 跃迁几率是指两能级间的跃迁在所有可能发生的跃迁中的 几率。它可通过实验数据计算得到。 3.统计权重:是和所处激发态能级的简并度有关的常数。 在磁场中,有时一条谱线可以分裂为几条谱线。这是由 于具有相同的n、L、J(内量子数)值但有不同的磁量子数mj 值所引起的。mj是决定总角动量沿磁场分量的量子数,与J值 有关,在数值上mj为: mj=±J,±(J-1)…… 因此,mi可取2J+1个不同值。 在无外磁场的作用下,具有相同的n、L、J的每一能级 ,可以认为是由2J+1个不同的能级合并而成的。所以, (2J+1)这个数值,称为简并度或统计权重。谱线强度与统计 权重成正比。 4.激发温度 温度升高,谱线强度增大。但是,由于温度升高,体 系中被电离的原子数目也将增多,而中性原子数相应减少, 致使原子线强度减弱。沙哈(Saha)指出,电离度x与激发温 度T的关系式为: 电离电位V愈大,则电离度愈小。对于电离能较高的元 素,激发温度的变化不会对原子线的强度有很大影响。 第19页图2-l为一些谱线强度与温度的关系曲线。曲线表 明,各元素谱线各有其最合适的温度。在此温度时,谱线 强度最大。 5.基态原子: 谱线强度与基态原子数N0成正比。而N0是由元素的浓度 决定的,所以在一定条件下,N0∝C。 谱线强度与元素的浓度有关。光谱定量分析就是根据这 一关系而建立起来的。 对于离子谱线,其强度除与以上5个因素有关外,还与 元素的电离电位V有关.离子线的强度为 式中,N为中性原子及离子的密度,V为电离电位,E为激 发电位,K为 以上讨论均限于谱线的绝对强度,实际工作中,准确测 定谱线的绝对强度是很困难的,所以在光谱定量分析中,常采 用谱线的相对强度。 四、谱线的自吸与自蚀 self-absorption and self reversal of spectrum line 等离子体:以气态形式存在的包含分子、离子、电子等 粒子的整体电中性集合体。等离子体内温度和原子浓度的分 布不均匀,中间的温度、激发态原子浓度高,边缘反之。 自吸:中心发射的辐射被边缘的同种基态原子吸收,使 辐射强度降低的现象。 元素浓度低时,不出现自吸。随 浓度增加,自吸越严重,当达到一定 值时,谱线中心完全吸收,如同出现 两条线,这种现象称为自蚀。 谱线表,r:自吸;R:自蚀; 第二节 原子发射光谱分析装置与仪器 一、仪器类型与流程 二、火焰光度计 三、光谱仪 四、电弧和电火花发射光谱仪 一、仪器类型与流程 原子发射光谱分析仪器的类型有多种,如:火焰发射光 谱、微波等离子体光谱仪、电感耦合等离子体光谱仪、光电 光谱仪、摄谱仪等; 原子发射光谱仪通 常由三部分构成: 光源、分光、检测 二、火焰光度计 利用火焰作为激发光源,仪器装置简单,稳定性高。该 仪器通常采用滤光片、光电池检测器等元件,价格低廉,又 称火焰光度计。 常用于碱金属、钙 等谱线简单的几种元素 的测定,在硅酸盐、血 浆等样品的分析中应用 较多。对钠、钾测定困 难,仪器的选择性差。 三、光谱仪(摄谱仪) 将原子发射出的辐射分光后观察其光谱的仪器。 按接收光谱方式分:看谱法、摄谱法、光电法; 按仪器分光系统分:棱镜摄谱仪、光栅摄谱仪; 光栅摄谱仪比棱镜摄 谱仪有更大的分辨率。 摄谱仪在钢铁工业应 用广泛。 性能指标:色散率、 分辨率、集光能力。 1. 摄谱仪光路图 2. 摄谱仪的观察装置 (1)光谱投影仪 (映谱仪),光谱定性分 析时将光谱图放大,放大 20倍。 (2)测微光度计 (黑度计);定量分析时 ,测定接受到的光谱线强 度;光线越强,感光板上 谱线越黑。 S=lg(1/T)=lg(I0/I) 四、电弧和电火花发射光谱仪 电弧和电火花发射光谱仪通常由三部分组成: 一、光源 二、分光仪 三、检测器 (一)光源 光源具有使试样蒸发、解离、原子化和激发、跃 迁产生光辐射的作用。光源对光谱分析的检出限、精 密度和准确度有很大影响。 常用电源有直流电弧、交流电弧和电火花三种 。此外,还有火焰放电、辉光放电、电感耦合等离子 体(ICP)等。光谱分析常用的光源多是电光源。 光谱分析用的电光源(电弧或电火花),都属于自持放电 类型。那么什么是自持放电呢? 自持放电 在电光源中,两个电极之间是空气(或其它气体)。电极间的 气体因电极间电压和电流的突然增大(到差不多只受外电路中 电阻的限制),而被击穿后,即使没有外界电离作用,仍能继 续保持电离,使放电持续。这种现象成为自持放电。 使电极间气体电离的原因有两个: 一个是外界足够动量:紫外线照射、电子轰击、电子或离子对 中性原子碰撞以及金属灼热时发射热电子等。 另一个原因是电极间加以足够大的电压维持放电。 使电极间击穿而发生自持放电的最小电压称为“击穿电压”。 要使空气中通过电流,必须有很高的电压。一般在1个 大气压(1atm=1.013×105Pa)下,欲使lmm的间隙中发生 放电,必须具有3300V的电压。 如果两电极间采用低压(220 V)供电,为了使电极间持 续地放电,通常使用一个小功率的高频振荡放电器来使气体 电离,称为“引燃”。 为了维持放电所必需的电压,称为“燃烧电压”。燃烧电 压总是小于击穿电压.并和放电电流强度有关,电极间的电 压和电流关系不遵守欧姆定律 。 下面介绍常用的电源 1. 直流电弧 直流电作为激发能源,电压150 ~380V,电流5~ 30A; 两支石墨电极,试样放置在一支电极(下电极)的凹槽内; 使分析间隙的两电极接触或用导体接触两电极,通电,电 极尖端被烧热,点燃电弧,再使电极相距4 ~ 6mm 发射光谱的产生: 电弧点燃后,热电子流高速通过分析间隔冲击阳极,产 生高热,试样蒸发并原子化,电子与原子碰撞电离出正离子 冲向阴极。电子、原子、离子间的相互碰撞,使原子跃迁到 激发态,返回基态时发射出该原子的光谱。 弧焰温度:4000~7000 K 可使约70多种元素激发; 特点:绝对灵敏度高,背景小,适合定性分析; 缺点: 弧光不稳,再现性差; 不适合定量分析。 2. 低压交流电弧 工作电压:110~220 V。 采用高频引燃装置点燃电弧,在每一交流半周时引燃一 次,保持电弧不灭; 工作原理 (1)接通电源,由变压器B1升压至2.5~3kV,电容器C1 充电;达到一定值时,放电盘G1击穿;G1-C1-L1构成振荡回 路,产生高频振荡; (2)振荡电压经B2的次级线圈升压到10kV,通过电容器 C2将电极间隙G的空气击穿,产生高频振荡放电; (3)当G被击穿时,电源的低 压部分沿着已造成的电离气体通道 ,通过G进行电弧放电; (4)在放电的短暂瞬间,电压 降低直至电弧熄灭,在下半周高频 再次点燃,重复进行; 特点: (1)电弧温度高,激发能力强; (2)电极头温度稍低,蒸发能力稍低; (3)电弧稳定性好,使分析重现性好,适用于定量分析。 3. 高压火花 (1)交流电压经变压器T后,产生10~25kV的高压,然后 通过扼流圈D向电容器C充电,达到G的击穿电压时,通过电 感L向G放电,产生振荡性的火花放电; (2)转动续断器M,2, 3为钨 电极,每转动180度,对接一次, 转动频率(50转/s),接通100次/s, 保证每半周电流最大值瞬间放电 一次; 高压火花的特点: (1)放电瞬间能量很大,产生的温度高,激发能力强, 某些难激发元素可被激发,且多为离子线; (2)放电间隔长,使得电极温度低,蒸发能力稍低,适 于低熔点金属与合金的分析; (3)稳定性好,重现性好,适用定量分析; 缺点: (1)灵敏度较差,但可做较高含量 的分析; (2)噪音较大; 4、电感耦合等离子体(ICP)光源 等离子体是含足量的自由带电粒子,其动力学行为受外 磁力支配的宏观电中性电离气体。其电离度大于0.1%以上 。 ICP工作原理如下: (1)ICP光源的组成和结构 ICP是气体电离而形成的。 ICP光源一般由三部分组成:高频发生器、等离 子炬管、雾化器。 为了形成等离子体,必须具备高频电磁场、工作气体( 通常用纯氩气)及等离子体炬管。 等离子炬管是一个三层同心石英玻璃管(P22图2—8) 。外层通入冷却气,中层气流起维持等离子体的作用,内层 以载气输入试样气溶胶,试样多为溶液。 当高频发生器与围绕在等离子炬管外的负载铜管线圈接 通时,高频电流流过线圈,并在炬管的轴线方向上形成一个 高频磁场。当氩气流经等离子体炬管时,高频电源感应产生 的电磁场使氩气电离,形成由电子、离子和原子组成的导电 气体,在炬管轴向垂直方向产生环形涡电流。气体涡流温度 高达10000k左右,成为试样原子化和激发发光的热源。 ICP形成后的外观类似燃烧的火炬,故称ICP炬焰,其 形状如图2—8所示。 由于高频电流的趋肤效应使等离子炬形成一个环状的 通道,高频电流在等离子炬的周围通过,而中间形成一个电 学上屏蔽的囱道,因而在输入气溶胶时不会引起等离子体的 阻抗的很大的变化,所以ICP具有很高的稳定性。 中心通道是试样气溶胶流过和发射光谱的区域,它具 有原子化和激发所需的适宜温度,通常约为4000-6000k。 尾焰是等离子体上部温度较低的区域。 作为发射光谱光源的等离子体分成了3个区域,分别是 : 预热区、初始辐射区、标准分析区 预热区在ICP炬焰的最下端,试样气溶胶的入口处,该 区只有几毫米高。在这一区,试样气溶胶与高温等离子体相 遇,除去溶剂,固体熔融蒸发,蒸汽转变成原子。 初始辐射区延伸到高频负载线圈以上6—12mm。这取 决于等离子体运行参数。该区温度比预热区高,有足够能量 将预热区形成的原子激发到较高能级,得到较强的原子发射 线。 标准分析区从初始辐射区的顶部延伸到负载线圈上约 20mm,其高度仍取决于等离子体操作参数,在轴向通道区 域,有些试样原子被电离和激发,得到强度较高的原子谱线 和离子线,这个区域是ICP分析中最常用的区域。再往上是 尾焰,该区等离子体焰已开始冷却,试样原子开始向外流动 ,轴向通道不再有明显界限。尾焰是较低能级跃迁的原子的 扩散层。大的夹杂物可导致产生可见的氢带和氧化物谱带的 发射。因此,降低了分析的可能性。 (2) 影响ICP光源分析性能的主要参数 在ICP光源中,发射谱线的强度和信噪比受多种因素影 响,这些因素构成了主要分析条件。必须选择最佳条件方可 得到理想的分析结果。反之,参数条件不合理,即使最先进 的仪器设备也得不到可靠的分析数据。 ICP光源分析最主要参数:高频功率,中心气流量和光源 观测高度三个参数。 这三个分析参数对谱线强度的影响规律: A、高频功率增加(1.25kv—2kv)时,谱线的发射强度显著增加,且强 度沿高度分布的峰值向高观测高度方向移动。 B、中心气流量增加,最佳观测高度向上移动,但峰值高度降低。故在ICP 光源中,过高的功率和中心气流量都是不利于谱线发射强度的。 对于离子谱线,如CaⅡ393.3nm一次离子,中心气流增加,谱线发射强 度大幅度降低,高频功率增加,发射强度增加。与原子谱线相比,离子谱 线在分析参数变化时,最佳观测高度移动较小。 C、不同元素有自己的最佳观测高度,其趋势是电离电位和激发电位较高 的原子谱线具有较高的最佳观测高度。 综上所述,电感耦合等离子体高频分析条 件应遵循的几条原则: a、高频功率不宜过高,一般在0.9—1.4kv; b、在确保雾化系统稳定工作的条件下,低的中心气流量 有利于增强谱线发射强度; c、优先选用元素的离子谱线作为分析线,多数离子谱线 不仅发射强度较大,而且其最佳观测高度分析条件变化 影响较小。 (二) 分光元件 常用的分光元件可分为两类:棱镜、光栅。 以这两类分光元件制作的光谱仪分别称为棱镜光 谱仪和光栅光谱仪。 1、棱镜光谱仪 棱镜光谱仪是最先使用的原子发射光谱仪器。它由 光源、狭缝照明系统、棱镜分光系统和照相系统组成。 激发光源视分析要求和样品类型,将直流电弧或交 流电弧或高频电火花接到电极架上。其作用波段为200— 580nm。 棱镜的作用: 把复合光分解为单色光。即不同波长的复合光通过 棱镜时,不同波长的光就会因折射率不同而分开。这种 作用即为棱镜的色散作用。 色散能力常以色散率和分辨率表示。 棱镜光谱仪是利用光的折射原理进行分光的,其色 散不均匀,即随波长的增加而降低,其色散率和分辨率 不如光栅光谱仪。 2、光栅光谱仪 光栅的分光作用是由光线通过光栅上每一条狭缝时的衍射 作用所形成的。 光栅光谱与棱镜光谱的主要区别是: (1)在光栅光谱中,sinΨ(衍射角)与波长成正比,所以 光栅光谱是一个均匀排列的光谱,而棱镜光谱因色散率与波长 有关,为非均匀排列的光谱. (2)在光栅光谱中,光的波长愈短其衍射角Ψ愈小;而在棱 镜光谱中,波长愈短,其偏愈大。因此,在光栅光谱中各谱线 的排列是由紫到红,与棱镜光谱中由红到紫,正好相反。 (3)复合光通过光栅后,中央条纹(或零级条纹)为白色条纹 ,在中央条纹两边,对称地排列着各级光谱应该指出。而在棱 镜光谱中,则没有这种现象. (4)光栅适用的波长范围较棱镜宽。 光栅 透射光栅,反射光栅; 光栅光谱的产生是多狭缝干 涉与单狭缝衍射共同作用的结果 ,前者决定光谱出现的位置,后 者决定谱线强度分布; (三) 检测器 在原子发射光谱法中,常用的检测方法有:目视法 、摄谱法和光电法三种。 1、目视法:用眼睛来观查谱线强度的方法。仅适用于可 见光波段。适用于半定量分析。 2、摄谱法:是用感光板来记录光谱。 将光谱感光板接收被分析试样的光谱的作用而感光,经 过显影、定影、制得底片——光谱线,根据其位置和强 度进行光谱定性与定量分析。 3、光电法:光电法用光电倍增管来检测谱线的强度。 在光电倍增管中,每个倍增管可产生2至5倍的电子,在第 n个倍增管上,可产生2n至5n倍于阴极的电子。 例如,若阴极在光照射下产生一个电子,则在第十个倍增 极上将产生210至510个电子,即约103至107个电子,放大倍数为 103至107。 由于光电倍增管具有灵敏度高,线性响应范围宽(光电 流在10-8至10-3A范围内与光通量成正比),响应时间短(约10 -9s)等。因此,广泛用于光谱分析仪器中。 第三节 定性、定量分析方法 一、光谱定性分析 二、光谱定性分析 三、特点与应用 一、 光谱定性分析 定性依据:元素不同→电子结构不同→光谱不同→特征光谱 1. 元素的分析线、最后线、灵敏线 分析线:复杂元素的谱线可能多至数千条,只选择其中几条 特征谱线检验,称其为分析线; 最后线:浓度逐渐减小,谱线强度减小,最后消失的谱线; 灵敏线:最易激发的能级所产生的谱线,每种元素都有一条 或几条谱线最强的线,即灵敏线。最后线也是最灵敏线; 共振线:由第一激发态回到基态所产生的谱线;通常也是最 灵敏线、最后线; 2. 定性方法 标准光谱比较法: 最常用的方法,以铁谱作为标准(波长标尺) 标准光谱比较定性法 标准谱图:将其他元素的分析线标记在铁谱上,铁谱起到标 尺的作用。 谱线检查:将试样与纯铁在完全相同条件下摄谱,将两谱片 在映谱器(放大器)上对齐、放大20倍,检查待测元素的分析 线是否存在,并与标准谱图对比确定。可同时进行多元素测 定。 为什么选铁谱? (1)谱线多:在210~660nm范围内有数千条谱线; (2)谱线间距离分配均匀:容易对比,适用面广; (3)定位准确:已准确测量了铁谱每一条谱线的波长。 3. 定性分析实验操作技术 (1) 试样处理 a. 金属或合金可以试样本身作为电极,当试样量很少 时,将试样粉碎后放在电极的试样槽内; b. 固体试样研磨成均匀的粉末后放在电极的试样槽内; c. 糊状试样先蒸干,残渣研磨成均匀的粉末后放在电极 的试样槽内。液体试样可采用ICP-AES直接进行分析。 (2) 实验条件选择 a. 光谱仪 在定性分析中通常选择灵敏度高的直流电弧;狭缝宽度5 ~7m;分析稀土元素时,由于其谱线复杂,要选择色散率较 高的大型摄谱仪。 b. 电极 电极材料:采用光谱纯的碳或石墨,特殊情况采用铜电极; 电极尺寸:直径约6mm,长3~4 cm; 试样槽尺寸:直径约3~4 mm, 深3~6 mm; 试样量:10 ~20mg ; 放电时,碳+氮产生氰 (CN), 氰分子在358.4~ 421.6 nm产生带 状光谱,干扰其他元素出现在该区 域的光谱线,需要该区域时,可采 用铜电极,但灵敏度低。 (3)摄谱过程 摄谱顺序:碳电极(空白)、铁谱、试样; 分段暴光法:先在小电流(5A)激发光源摄取易挥发元素 光谱调节光阑,改变暴光位置后,加大电流(10A),再次暴光 摄取难挥发元素光谱; 采用哈特曼光阑,可多 次暴光而不影响谱线相对位 置,便于对比。 二、 光谱定量分析 1. 光谱半定量分析 与目视比色法相似;测量试样中元素的大致浓度范围; 应用:用于钢材、合金等的分类、矿石品位分级等大批 量试样的快速测定。 谱线强度比较法:测定一系列不同含量的待测元素标准 光谱系列,在完全相同条件下(同时摄谱),测定试样中待测 元素光谱,选择灵敏线,比较标准谱图与试样谱图中灵敏线 的黑度,确定含量范围。 2. 光谱定量分析 (1) 发射光谱定量分析的基本关系式 在条件一定时,谱线强度I 与待测元素含量c关系为: I = a c a为常数(与蒸发、激发过程等有关),考虑到发射光谱中 存在着自吸现象,需要引入自吸常数 b ,则: 发射光谱分析的基本关系式,称为塞伯-罗马金公式(经 验式)。自吸常数 b 随浓度c增加而减小,当浓度很小,自 吸消失时,b=1。 (2) 内标法基本关系式 影响谱线强度因素较多,直接测定谱线绝对强度计算难以 获得准确结果,实际工作多采用内标法(相对强度法)。 在被测元素的光谱中选择一条作为分析线(强度I),再选 择内标物的一条谱线(强度I0),组成分析线对。则: 相对强度R: A为其他三项合并后的常数项,内标法定量的基本关系式。 内标元素与分析线对的选择: a. 内标元素可以选择基体元素,或另外加入,含量固定; b. 内标元素与待测元素具有相近的蒸发特性; c. 分析线对应匹配,同为原子线或离子线,且激发电位相近( 谱线靠近),“匀称线对”; d. 强度相差不大,无相邻谱线干扰,无自吸或自吸小。 (3) 定量分析方法 a. 内标标准曲线法 由 lgR = blgc +lgA 以lgR 对应lgc 作图,绘制标准曲线,在相同条件下,测定 试样中待测元素的lgR,在标准曲线上求得未知试样lgc; b.标准加入法 无合适内标物时,采用该法。 取若干份体积相同的试液(cX),依次按比例加入不同量的 待测物的标准溶液(cO),浓度依次为: cX , cX +cO , cX +2cO , cX +3cO , cX +4 cO …… 在相同条件下测定:RX,R1,R2,R3,R4……。 以R对浓度c做图得一直线,图中cX点即待测溶液浓度。 三、特点与应用 1. 特点 (1)可多元素同时检测 各元素同时发射各自的特征光谱; (2)分析速度快 试样不需处理,同时对十几种元素进行定 量分析(光电直读仪); (3)选择性高 各元素具有不同的特征光谱; (4)检出限较低 10~0.1gg-1(一般光源);ngg-1(ICP) (5)准确度较高 5%~10% (一般光源); 1% (ICP) ; (6)ICP-AES性能优越 线性范围4~6数量级,可测高、中 、低不同含量试样; 缺点:非金属元素不能检测或灵敏度低。 2.原子发射光谱分析法的应用 原子发射光谱分析在鉴定金属元素方面(定性分析)具 有较大的优越性,不需分离、多元素同时测定、灵敏、快捷 ,可鉴定周期表中约70多种元素,长期在钢铁工业(炉前快 速分析)、地矿等方面发挥重要作用; 在定量分析方面,原子吸收分析有着优越性; 80年代以来,全谱光电直读等离子体发射光谱仪发展迅 速,已成为无机化合物分析的重要仪器。
展开阅读全文
  麦档网所有资源均是用户自行上传分享,仅供网友学习交流,未经上传用户书面授权,请勿作他用。
0条评论

还可以输入200字符

暂无评论,赶快抢占沙发吧。

关于本文
本文标题:第二篇原子发射光谱分析法
链接地址:https://www.maidoc.com/p-15475519.html

当前资源信息

0****

编号: 20180818145108869338

类型: 共享资源

格式: PPT

大小: 3.23MB

上传时间: 2019-10-09

关于我们 - 网站声明 - 网站地图 - 资源地图 - 友情链接 - 网站客服 - 联系我们

[email protected] 2018-2020 maidoc.com版权所有  文库上传用户QQ群:3303921 

麦档网为“文档C2C模式”,即用户上传的文档所得金币直接给(下载)用户,本站只是中间服务平台,本站所有文档下载所得的金币归上传人(含作者)所有。
备案号:蜀ICP备17040478号-3  
川公网安备:51019002001290号 

本站提供办公文档学习资料考试资料文档下载


收起
展开